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  • 精密lcr測試儀3504-40

    精(jing)密lcr測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)?高速(su)測(ce)(ce)量2ms?能(neng)(neng)根據C 和D (損(sun)耗系數*2)的(de)測(ce)(ce)量值,進(jin)行(xing)被測(ce)(ce)物合格(ge)與否的(de)判斷(duan)?對(dui)應(ying)測(ce)(ce)試(shi)線(xian),比較器功能(neng)(neng)/觸發輸出功能(neng)(neng)?3504-60/-50用(yong)BIN的(de)分選(xuan)接口進(jin)行(xing)被測(ce)(ce)物體的(de)測(ce)(ce)試(shi)?3504-40記錄工(gong)具,實現(xian)高速(su)/低成本的(de)測(ce)(ce)試(shi)查出全機測(ce)(ce)量中(zhong)的(de)接觸錯誤,提高成品率

  • LCR測試儀3504-50

    LCR測(ce)試(shi)儀 ?高速測(ce)量2ms ?能(neng)根據C 和D (損耗系(xi)數*2)的(de)(de)測(ce)量值,進行被測(ce)物合格與否(fou)的(de)(de)判(pan)斷(duan) ?對(dui)應測(ce)試(shi)線,比較器功(gong)能(neng)/觸發輸出功(gong)能(neng)  ?3504-60/-50用BIN的(de)(de)分(fen)選(xuan)接口進行被測(ce)物體的(de)(de)測(ce)試(shi) ?3504-40記錄工具,實(shi)現高速/低成本的(de)(de)測(ce)試(shi) 查(cha)出全(quan)機(ji)測(ce)量中的(de)(de)接觸錯(cuo)誤,提(ti)高成品率

  • LCR測試儀3504-60

    LCR測(ce)試(shi)儀 ?高速測(ce)量2ms ?能根據C 和D (損耗系數(shu)*2)的(de)測(ce)量值(zhi),進行被測(ce)物(wu)(wu)合格與(yu)否的(de)判斷 ?對應測(ce)試(shi)線(xian),比較器功能/觸發輸(shu)出功能 ?3504-60/-50用BIN的(de)分選接口進行被測(ce)物(wu)(wu)體的(de)測(ce)試(shi) ?3504-40記錄(lu)工具,實現(xian)高速/低成本的(de)測(ce)試(shi) 查出全機測(ce)量中的(de)接觸錯誤,提(ti)高成品率

  • 阻抗分析儀IM7585

    阻抗分析(xi)(xi)儀 ?測(ce)(ce)量(liang)(liang)頻(pin)(pin)率(lv):1MHz~1.3GHz ?測(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)間:Z快(kuai)0.5ms(模(mo)擬(ni)測(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)間) ?測(ce)(ce)量(liang)(liang)值偏(pian)差:0.07%(測(ce)(ce)量(liang)(liang)頻(pin)(pin)率(lv)1GHz時(shi)(shi)的代表值) ?基(ji)本精度:±0.65% rdg. ?緊(jin)湊主機僅機架一半大小,測(ce)(ce)試頭僅手掌大小 ?豐(feng)富(fu)的接觸檢(jian)查功能(DCR測(ce)(ce)量(liang)(liang)、Hi-Z篩選(xuan)、波形判定(ding)) 使用分析(xi)(xi)功能在掃描測(ce)(ce)量(liang)(liang)頻(pin)(pin)率(lv)、測(ce)(ce)量(liang)(liang)信(xin)號電平的同時(shi)(shi)進行測(ce)(ce)量(liang)(liang)

  • 阻抗分析儀IM7583

    阻抗分析儀(yi) ?測(ce)(ce)量(liang)頻率(lv):1MHz~600MHz ?測(ce)(ce)量(liang)時間(jian):Z快0.5ms(模擬(ni)測(ce)(ce)量(liang)時間(jian)) ?基本精度:±0.65% rdg. ?緊湊主機(ji)(ji)僅(jin)機(ji)(ji)架一(yi)半大小,測(ce)(ce)試頭僅(jin)手掌大小 ?豐富的接觸檢查功能(neng)(DCR測(ce)(ce)量(liang)、Hi-Z篩選、波形判(pan)定) 使用分析功能(neng)在掃描測(ce)(ce)量(liang)頻率(lv)、測(ce)(ce)量(liang)信號電平的同時進行測(ce)(ce)量(liang)

  • 阻抗分析儀IM7581

    阻抗分(fen)析(xi)儀 ?測(ce)量(liang)頻率(lv)1MHz~300MHz ?測(ce)量(liang)時間:Z快(kuai)0.5ms ?基本精度±0.72%rdg. ?緊湊主機僅(jin)機架一(yi)半大小(xiao)、測(ce)試頭(tou)僅(jin)手(shou)掌大小(xiao) ?豐富的(de)接觸檢查功(gong)(gong)能(DCR測(ce)量(liang)、Hi-Z篩選(xuan)、波形判(pan)定(ding)) 使用分(fen)析(xi)功(gong)(gong)能在掃描測(ce)量(liang)頻率(lv)、測(ce)量(liang)信(xin)號電平的(de)同時進行測(ce)量(liang)

  • 阻抗分析儀IM7580A

    阻(zu)抗分析(xi)儀 ?測量(liang)(liang)頻(pin)率(lv)1MHz~300MHz ?測量(liang)(liang)時間:Z快0.5ms ?基(ji)本精(jing)度±0.72%rdg. ?緊湊(cou)主機僅(jin)機架一(yi)半大小(xiao)、測試頭僅(jin)手掌(zhang)大小(xiao) ?豐富的接觸(chu)檢(jian)查功能(DCR測量(liang)(liang)、Hi-Z篩選、波形判定) 使用分析(xi)功能在掃描測量(liang)(liang)頻(pin)率(lv)、測量(liang)(liang)信(xin)號(hao)電(dian)平的同時進行(xing)測量(liang)(liang)

  • 阻抗分析儀IM3590

    阻(zu)抗分析儀 ?適用(yong)于離(li)子運動和溶液電(dian)阻(zu)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang),1mHz ~ 200kHz的(de)寬范圍信號源 ?1臺(tai)機器即可(ke)實現(xian)LCR測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)、掃(sao)描(miao)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)的(de)連(lian)續測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)和高(gao)速檢查 ?可(ke)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)電(dian)池(chi)的(de)無負(fu)載狀態產(chan)生的(de)內(nei)部電(dian)阻(zu) ?Z快2ms的(de)高(gao)速測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang),實現(xian)掃(sao)描(miao)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)的(de)高(gao)速化 ?基(ji)本精度±0.05%,零(ling)(ling)件(jian)檢查到研究開發測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)均可(ke)對應 適用(yong)于Cole-Cole圖(tu)、等(deng)效電(dian)路分析等(deng)電(dian)器化學零(ling)(ling)件(jian)和材(cai)料的(de)電(dian)阻(zu)(LCR)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)

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